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SB100A/2四探針導體/半導體電阻率測量儀 介紹>>>

   

   

  SB100A/2為原SB100/1及SB100A/1的改進型。
由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低,他們的測量采用四端接線法。為了滿足實際的需要,本儀器采用四探針法原理來實現對不同金屬、半導體、導電高分子材料的電阻及電阻率的測量。可用于高校物理教育實驗,對導體/半導體/金屬薄膜材料的電阻 及電阻率的測試及研究。本產品的電阻測量范圍可達10-6—106Ω。(使用環境5—40℃,相對濕度<80%,供電220V  50Hz,為實驗室環境使用)
   SB100A/2由SB118直流電壓電流源、PZ158A直流數字電壓表、SB120/2四探針樣品測試平臺三部分組成。
l            SB118直流電壓電流源:是一臺4½位的電壓源及電流源,既可輸出5µV—50V,5檔可調電壓,基本誤差為±(0.1%RD+0.02%FS)又可輸出1nA—100mA,5檔可調電流,基本誤差為
±(0.03%RD+0.02%FS)詳見本公司產品SB118。
l            PZ158A直流數字電壓表:具有6½位字長,0.1μV電壓分辨力的帶單片危機處理技術的高精度電子測量儀器,可測量0-1000V直流電壓。基本量程的基本誤差為±(0.002%RD+0.0005%FS),詳見本公司產品PZ158A。
l            SB120/2四探針樣品測試平臺:該測試平臺是SB120/1測試平臺的改進型。其有底座、支架、旋動部件、樣品平臺、四探針及接線板等組成。由于其整個結構及旋動方式都在原SB120/1的基礎上作了很大的改進,故在高校的物理實驗及科學研究總為導體/半導體/金屬薄膜材料的電阻和電阻率的測試、研究提供了較大的方便。


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