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SB100A/30型四探針導體/半導體電阻率測量儀 介紹>>>

   

由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低,他們的測量采用四端接線法。為了滿足實際的需要,本儀器采用四探針法原理來實現對不同金屬、半導體、導電高分子材料的電阻及電阻率的測量。可用于高校物理教育實驗,對導體/半導體/金屬薄膜材料的電阻 及電阻率的測試及研究。本產品的電阻測量范圍可達10-5—106Ω。
SB100A/30型四探針導體/半導體電阻率測量儀是由SB118/1型精密電壓電流源以及SB120/2四探針樣品平臺二臺儀器構成。
l            SB118型精密直流電壓電流源 (帶RS232接口、詳見該產品使用說明書)
直流電流源
a)       電流輸出范圍:1nA~200mA,輸出電壓不小于5V;
b)       量程:分五檔,20μA、200μA、2mA、20mA、200mA;
c)       電流輸出的基本誤差:0.03%RD±0.02%FS(20±2℃);其中50~200mA為0.05%RD±0.02%FS。
直流電壓源
a)       電壓輸出范圍:5μV~50V,負載電流不小于10mA(20mV以上);
b)       量程:分五檔,20mV、200mV、2V、20V、50V,每檔均有粗調和細調;
c)       電壓輸出的基本誤差:0.05%RD±0.02%FS(20±2℃)。
數字電壓表(4½LED)利用電壓源部分“取樣”端可對被測電壓進行測試
a)       測量量程   20mV,200mV,2V,20V,200V
b)       最高分辨力  可達1µV
c)       基本誤差為 0.03%RD±0.02%FS   (20±2ºC)
l            SB120/2四探針樣品平臺(詳見該產品使用說明書)
為被測薄膜樣品,利用四探針測量方式測量導體/半導體樣品的電阻和電阻率,提供了方便。


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